目前，大多數(shù)蜂窩電話采用時分多址(TDMA)標準，這種復用技術以217Hz的頻率對高頻載波進行通/斷脈沖調(diào)制。容易受到RF干擾的IC會對該 載波信號進行解調(diào)，再生出217Hz及其諧波成分的信號。由于這些頻譜成分的絕大多數(shù)都落入音頻范圍，因此它們會產(chǎn)生令人生厭的“嗡嗡”聲。

本文說明了一種通用的集成電路RF噪聲抑制測量技術。RF抗干擾能力測試將電路板置于可控制的RF信號電平下，RF電平代表電路工作時可能受到的干擾強度。 從而產(chǎn)生了一個標準化、結(jié)構(gòu)化的測試方法，使用這種方法能夠得到在質(zhì)量分析中可重復的測試結(jié)果。這樣的測試結(jié)果有助于IC選型，從而獲得能夠抵抗RF噪聲 的電路。

可以將被測器件(DUT)靠近正在工作的蜂窩電話，以測試其RF敏感度。但是，為了得到一個精確的、具有可重復性的測試結(jié)果，需要 采用一種固定的測量方法，在可重復的RF場內(nèi)測試DUT。解決方案是采用RF測試電波暗室，提供一個可精確控制的RF場，相當于典型移動電話所產(chǎn)生的RF 場。